Дифракция на двумерной структуре
МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ РЕСПУБЛИКИ БЕЛАРУСЬ ГОМЕЛЬСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ Имени П.О.Cухого.
Кафедра”Физика”
Лабораторная работа №4
Определение периодов двухмерной структуры.
Выполнил студент гр.ПЭ-23: Миньков А.А. Принял преподаватель: Петрашенко П.Д.
Гомель 2002
Лабораторная работа №4 ОПРЕДЕЛЕНИЕ ДЛИНЫ СВЕТОВОЙ ВОЛНЫ С ПОМОЩЬЮ ДИФРАКЦИОННОЙ РЕШЕТКИ. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПЕРИОДОВ ДВУХМЕРНОЙ СТРУКТУРЫ.
Цель работы: изучение дифракции света на одномерной и двухмерной структурах Приборы и принадлежности: ОКГ, дифракционная решётка, металлическая сетка, экран.
ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ ЧАСТЬ
При подготовке к лабораторной работе необходимо теоретические сведения к работе №3 "Изучение дифракции от щели". Дифракционной решёткой называется совокупность большого числа одинаковых, отстоящих друг от друга на одно и то же расстояние щелей. Расстояние d между серединами соседних щелей называется периодом решетки. Расположим параллельно решётке RR. собирающую линзу Л Л , в фокальной плоскости которой поставим экран ЭЭ. Выясним характер дифракционной картины, получающейся на экране при падении на решётку плоской световой волны ( для простоты будем считать, что волна падает на решётку нормально). Каждая из щелей даст на экране картину, типичную для дифракции от одной щели. Картины от всех щелей придутся на одно и то же место экрана ( т.к. независимо от положения щели, центральный максимум лежит против центра линзы). Если бы колебания, приходящие в точку Р от различных щелей, были некогерентными, результирующая картина от N щелей отличалась бы от картины, создаваемой одной щелью, лишь тем, что все интенсивности возросли бы в N раз. Однако колебания от различных щелей являются когерентными, поэтому результирующая интенсивность будет отлична от NJφ ( Jφ - интенсивность, создаваемая одной щелью в направлении φ ). Результирующее колебание в точке Р, положение которой определяется углом (φ, представляет собой сумму N колебаний с одинаковой амплитудой Аφ , сдвинутых друг относительна друга по фазе на одну и ту же величину δ. Дифракционная картина от решетки является результатом дифракции волн на каждой щели (Jφ) и интерференции волн от различных щелей
Разность хода от соседних щелей равна :
Следовательно, разность фаз равна: (2)
Подставим в формулу (I) выражение для Jφ и выражение (2) для δ, получим:
dsinφ = mλ
Для направлений, определяемых этим условием, колебания от отдельных щелей взаимно усиливают друг друга, вследствие чего амплитуда колебаний в соответствующих точках экрана равна Amax=NAφ. Условие (5) определяет положения максимумов интенсивности, называемых главными. Число m называется порядком главного максимума. Максимум нулевого порядка только один. максимумов 1-го, 2-го, и т.д. порядков имеется по два. Возведя равенство (6) в квадрат, получим, что интенсивность главных максимумов Jmax в N2 раз больше интенсивности Jφ , создаваемой в направлении одной щелью
Следовательно, при дифракции света на решетке из N правильно расположенных щелей, интенсивность растёт прямопропорционально квадрату числа щелей. Это есть следствие перераспределения полной , прошедшей через все щели световой энергии вследствие интерференции дифрагировавших пучков. Кроме минимумов, определяемых условием (4), в .промежутках. между соседними главными максимумами имеется по (N-1) добавочному минимуму. Эти минимумы возникают в тех направлениях , для которых колебания от отдельных щелей взаимно погашают друг друга. Направление добавочных минимумов определяется условием
(8)
В формуле (8) К` принимает все целочисленные значения кроме 0, N, 2N… , т.е. кроме тех, при которых условие (8) переходит в условие (5). Положение главных максимумов зависит от длины волны λ. Поэтому при пропускании через решетку белого цвета все максимумы, кроме центрального разложатся в спектр, фиолетовый конец которого обращен к центру дифракционной картины, красный – наружу. Т.о., дифракционная решетка представляет собой спектральный прибор.
Дифракция на двумерной структуре. В работе исследуется дифракция луча He-Ne. лазера на двумерных структурах, в качестве которых используются сетки с прямоугольными равными по размерам ячейками. При рассмотрении одномерной задачи дифракции плоской волны на правильной структуре из m щелей учитывается изменение распределения интенсивности дифрагированного света лишь вдоль направления, перпендикулярного к образующим щелей. Ери перемещении же приемника вдоль образую-щих щелей эффектов дифракции не наблюдается . Представляет интерес рассмотреть дифракцию света в более сложных структурах. Рассмотрим двумерную систему, а именно две дифракционные решётки с периодами d1 и d2. Наложим их одна на другую так, чтобы щели первой решётки были перпендикулярны к щелям второй. Пусть ось X перпендикулярна к щелям первой решётки, а ось У - к щелям второй. При описании такой более сложной системы будем пользоваться не углами дифракции φ1 , а дополнительными к ним углами α , β ,γ. Очевидно, что sinφ1=cosα. Тогда известное условие возникновения главных максимумов для первой решётки запишется в виде
Пусть нормально на такую систему двух дифракционных решеток падает плоская волна. Если обозначим через α0, β0, γ0, углы между нормалью к плоской волне и осями x,y,z то в нашем случае α0=β0=π/2; γ0=0. Применяя теорию одномерной решетки, найдём, что положения главных максимумов в направлении оси должны удовлетворять условию:
Таким образом главные максимумы дифрагированного на двумерной структуре света возможны лишь в направлениях, удовлетворяющих одновременно двум написанным выше условиям. Если в каждой решетке, образующих двумерную структуру, число щелей N1 и N2 достаточно велико, то максимумы будут очень острыми и практически вся световая энергия пойдёт только по этим "разрешетным" направлениям. На экране, расположенном в любом месте за системой решеток, получится дифракционная картина, представляющая собой четкие, симметрично расположенные световые пятна
ПРАКТИЧЕСКАЯ ЧАСТЬ
Ход работы а) Определение длины световой волны с помощью дифракционной решетки
(строки 3,4).
где d=0,01 мм- период решётки 6. Вычислим . Результат в нанометрах занесём в таблицу.
б) Определение периодов двухмерной структуры
1. Заменим дифракционную решетку на металлическую сетку (С). расстояние а должно лежать в пределах 0,6-1 м. 2. Измерим с помощью миллиметровой линейки расстояние между сеткой и экраном (а) и расстояние X1, X2, Y1, Y2. Результаты измерений занесём в таблицу 2.
3. Значение d1 и d2 могут быть определены из условий максимума:
Вывод: Изучили дифракцию света на одномерной и двумерной структурах.
Популярное: Почему двоичная система счисления так распространена?: Каждая цифра должна быть как-то представлена на физическом носителе... Почему люди поддаются рекламе?: Только не надо искать ответы в качестве или количестве рекламы... Почему стероиды повышают давление?: Основных причин три... ©2015-2024 megaobuchalka.ru Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав. (708)
|
Почему 1285321 студент выбрали МегаОбучалку... Система поиска информации Мобильная версия сайта Удобная навигация Нет шокирующей рекламы |