Мегаобучалка Главная | О нас | Обратная связь


Контактная фотолитография



2016-01-26 479 Обсуждений (0)
Контактная фотолитография 0.00 из 5.00 0 оценок




Фотолитография – это сложный технологический процесс, основанный на использовании необратимых фотохимических явлений, происходящих в нанесенном на подложки слое ФР при его обработке ультрафиолетовым излучением через маску (фотошаблон).При контактной фотолитографии фотошаблон на установке совмещения и экспонирования с помощью специального приспособления плотно прижимают к пленке ФР, после чего экспонируют пучком параллельных ультрафиолетовых лучей.

Технологический процесс фотолитографии можно разделить на три основные стадии:

– формирование фоторезистивного слоя (обработка подложек для их очистки и повышения адгезионной способности, нанесение ФР и его сушку);

– формирование защитного рельефа в слое ФР (совмещение, экспонирование, проявление, вторая сушка слоя ФР – задубливание);

– создание рельефного изображения на подложке (травление технологического слоя – пленки диэлектрика, металла или полупроводника), удаление слоя ФР, контроль качества фотолитографии.

Блок-схема процесса контактной фотолитографии показана на рис.1.

 


Рис.1. Блок-схема процесса контактной фотолитографии

Фоторезисты– светочувствительные органические материалы с изменяющейся под воздействием света растворимостью. ФР, растворимость экспонированного участка которых уменьшается, называются негативными, а ФР, растворимость которых после облучения возрастает, –позитивными. В основе создания рельефа в пленке негативного ФР лежит использование фотохимической реакции фотоприсоединеия - фотополимеризации , а в пленке позитивного ФР – реакции фоторазложения – фотолиза. При фотополимеризации происходит поперечная сшивка молекул полимера и его химическая стойкость увеличивается. При фотолизе происходит происходит разрыв слабых связей между молекулами, что приводит к снижению химической стойкости.

После обработки экспонированного ФР в проявителе, удаляющем растворимые участки , образуется рельефное изображение (рис.2).

 


а) б)

 

Рис.2. Формирование рельефа изображения элементов при использовании позитивного (а) и негативного (б) ФР:

1– ультрафиолетовое излучение, 2,3 – фотошаблон, 4 –слой ФР, 5–технологический слой, 6 – подложка.

Основными параметрами ФР являются светочувствительность, разрешающая способность, кислотоустойчивость, стабильность и вязкость (концентрация).

Светочувствительность – величина, обратная экспозиции, т.е. времени облучения, требуемой для перевода ФР в растворимое или нерастворимое состояние (экспозиция определяется экспериментально и зависит от толщины пленки ФР ).

Разрешающая способность – максимальное число линий одинаковый ширины, которое можно получить в ФР на 1 мм. Разрешающая способность R и ширина линий L связаны между собой соотношением R=1000/2L.

Стойкость к воздействию агрессивных сред (кислотоустойчивость) – величина пропорциональная времени отслаивания пленки в используемом травителе, оно должно быть по крайней мере на порядок выше времени проявления .

Стабильность эксплуатационных свойств определяется временем службы ФР при определенных условиях хранения и использования.

Фотошаблон(ФШ) – плоскопараллельная пластина из прозрачного материала, на которой имеется рисунок, состоящий из сочетания непрозрачных и прозрачных участков на основе пленочного покрытия, образующих топологию одного из слоев структуры интегральной схемы. В зависимости от материала пленочного покрытия различают ФШ на основе фотографической эмульсии (эмульсионные ФШ), металлической пленки (металлизированные ФШ) и других материалов, например оксида железа (оксидные ФШ). Эмульсионные ФШ принципиально не могут обеспечить разрешающую способность, т.к. эмульсия имеет минимальную толщину слоя 4…6 мкм, кроме того, крайне низка их эксплутационная стойкость (1…10 совмещений). Металлизированные ФШ (хромированные) обеспечивают значительно большие разрешающую способность и стойкость (до 100 совмещений), однако коэффициент отражения пленки хрома высок и это не позволяет стабильно получать элементы размерами менее 1,5 мкм. Оксидные ФШ (оксиды Cr2О3 , Fe2O3, ) более удобны с точки зрения простоты совмещения, т.к. непрозрачные для УФ излучения оксиды являются прозрачными для видимого света, кроме того, их износостойкость выше, чем у металлизированных ФШ .Металлизированные и оксидные ФШ получают вакуумными и химическими методами, а также осаждением из парогазовой фазы с последующим травлением.

Технологический процесс контактной фотолитографии включает следующие операции:

– подготовку поверхности перед нанесением ФР;

– нанесение слоя ФР;

– сушку пленки ФР;

– совмещение ФШ с подложкой и экспонирование (засветку) ФР;

– проявление – удаление определенных участков пленки ФР (получение микрорисунка);

– контроль качества проявления и геометрических размеров изображения;

– задубливание ФР, повышающие устойчивость ФР к травителю;

– травление слоя оксида или металла через полученную фоторезистивную маску в специальном травителе;

– контроль качества травления ;

– удаление пленки ФР с поверхности;

– контроль качества проведенной фотолитографии.

 

Рассмотрим основные операции технологического процесса контактной фотолитографии.

 

Обработка поверхности подложекнеобходима для удаления органических и неорганических загрязнений. Необходимо, чтобы поверхность была гидрофильна к ФР и гидрофобна к травителю. Для удаления загрязнений используется обработка подложек в горячих органических растворителях, обработка в перекисно-аммиачном растворе с последующей гидромеханической отмывкой в деионизованной воде.

Для нанесения слоя ФР на пластину применяют методы центрифугирования, пульверизации, электростатического нанесения, окунания, полива. Самое широкое применение в полупроводниковой технологии нашел метод центрифугирования, так как он при несложном оборудовании позволяет получать пленки ФР с разбросом по толщине ± 10 % .Толщина ФР зависит от скорости вращения центрифуги и вязкости ФР. Метод центрифугирования позволяет формировать слой ФР на подложке с диаметром до 300 мм. Формирование слоя происходит за 20..30 c.При нанесении ФР на неподвижную подложку время между нанесением жидкого резиста и включением центрифуги должно быть минимальным (0.5…1с), чтобы вязкость ФР не менялась в результате испарения растворителей.

Нанесение ФР пульверизацией (распылением) позволяет получать широкий интервал толщин слоев и может использоваться для неплоских поверхностей. При этом расход ФР можно уменьшить примерно в 10 раз, дефектность слоя в 3…4 раза меньше по сравнению с центрифугированием, а отсутствие краевого утолщения делает этот метод особенно эффективным при нанесении ФР на прямоугольные подложки.

При электростатическом нанесении ФР диспергируется с помощью форсунки, либо само электрическое поле дробит жидкость на мелкие капли диаметром около 10 мкм. Заряженные капли ускоряются электрическим полем напряжением 15–20 кВ и осаждаются на подложку.

Нанесение ФР окунанием – наиболее простой способ нанесения покрытия, когда обрабатываемую подложку погружают в ФР и выводят из него с регулируемой скоростью. Полив ФР на горизонтально расположенные подложки обеспечивает лучшую по сравнению с окунанием равномерность по толщине, однако имеются утолщения по краям.

Сушка слоя ФРнеобходима для окончательного удаления растворителя. Для этого подложку со слоем ФР нагревают до 90–1000С. При этом также происходит уплотнение молекулярной структуры слоя, уменьшаются внутренние напряжения, повышается адгезия к подложке. При конвективной сушке подложки выдерживаются в термокамере в течение 15–20 мин. При инфракрасной сушке источником тепла является сама подложка, поглощающая ИК-излучение от галогенной лампы или от накаливаемой спирали. Время сушки составляет 5–10 мин. При СВЧ сушке подложки нагреваются, поглощая энергию СВЧ поля. Время сушки – несколько секунд.

Совмещение и экспонирование – одни из наиболее ответственных операций, обеспечивающих качество фотолитографии. Передача изображения с ФШ на подложку должна выполняться с точностью до десятых долей минимального размера элемента, что обычно составляет 0,1- 0,5 мкм. Поэтому процессы совмещения и экспонирования проводят на одном рабочем месте одновременно на одной установке, не допуская даже малой вибрации ФШ и подложки. Современные установки совмещения и экспонирования представляют собой сложные оптико-механические комплексы. При первой фотолитографии ФШ ориентируют относительно базового среза подложки. При последующих фотолитографиях, когда на подложке уже сформированы топологические слои, рисунок фотошаблона ориентируют относительно рисунка предыдущего слоя с помощью меток совмещения, которые представляют собой концентрические окружности, вложенные квадраты, крестики и т.п. Время экспонирования зависит от толщины слоя ФР, его светочувствительности и энергии падающего излучения.

Проявление слоя ФР заключается в удалении в зависимости от использованного типа ФР экспонированных или неэкспонированных участков, в результате чего на поверхности подложки остается защитный рельеф – фоторезистивная маска требуемой конфигурации. Проявителями для негативных ФР служат органические растворители, а для позитивных – слабые водные растворы щелочей (NaOH, KOH). Типовое время проявления составляет 30–40 с.

Задубливаниеслоя ФР является второй сушкой при более высокой температуре. и выполняется теми же способами, что и первая сушка.

Травлениетехнологического слоя через маску из ФР осуществляют химическим жидкостным или плазменным "сухим" травлением. Химическое жидкостное травление основано на растворении в химических реагентах незащищенных фоторезистивной маской участков технологического слоя. Скорость травления зависит от концентрации реагента и его температуры. Недостатком жидкостного травления является образование т.н. "клина травления", который образуется из-за затекания травителя под фоторезистивную маску, что приводит к уменьшению размера рисунка. При "сухих" методах нет бокового подтравливания, потому что травление технологических слоев осуществляется с использованием плазменных потоков, которые удаляют технологический слой за счет физического распыления путем бомбардировки ионами инертного газа, или разрушением технологического слоя ионами активных газов (CF4 , CCl3 , SF6 ).

Удалениепленки ФР осуществляют двумя методами. В первом методе ФР смывают с помощью органических растворителей (ацетон, диметилформамид, четыреххлористый углерод), во втором – с использованием плазмы кислорода, в результате чего образуются летучие соединения CO2 и H2O, NO2 и др.

Контролькачества воспроизведения конфигурации осуществляют с помощью оптического микроскопа с увеличением не менее 100 раз.

 

В данной лабораторной работе ставится задача провести фотолитографическую гравировку медной пленки толщиной 0,3 мкм, нанесенной на подложку из ситалла или стекла.

 



2016-01-26 479 Обсуждений (0)
Контактная фотолитография 0.00 из 5.00 0 оценок









Обсуждение в статье: Контактная фотолитография

Обсуждений еще не было, будьте первым... ↓↓↓

Отправить сообщение

Популярное:
Почему двоичная система счисления так распространена?: Каждая цифра должна быть как-то представлена на физическом носителе...
Почему человек чувствует себя несчастным?: Для начала определим, что такое несчастье. Несчастьем мы будем считать психологическое состояние...



©2015-2024 megaobuchalka.ru Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав. (479)

Почему 1285321 студент выбрали МегаОбучалку...

Система поиска информации

Мобильная версия сайта

Удобная навигация

Нет шокирующей рекламы



(0.007 сек.)