Мегаобучалка Главная | О нас | Обратная связь


ОПД.Ф.08 «Основы проектирования приборов и систем»



2015-12-06 429 Обсуждений (0)
ОПД.Ф.08 «Основы проектирования приборов и систем» 0.00 из 5.00 0 оценок




Перечень теоретических вопросов, выносимых на государственный экзамен

ЕН.Ф.06 «Физические основы получения информации»

1. Информация. Информационный обмен. Основные термины и определения. Виды информации.

2. Измерение информации. Геометрическая мера. Комбинаторная мера информации. Аддитивная мера информации. Мера Хартли. Статистическая мера информации.

3. Классификация измерительных преобразований. Характеристики датчиков-преобразователей.

4. Сущность тензоэффекта. Материалы, используемы для изготовления тензодатчиков. Тензоэлектрическое измерительное преобразование. Виды тензодатчиков и их применение.

5. Сущность прямого и обратного пьезоэффектов. Продольный и поперечный пьезоэффекты, сдвиговая деформация пьезокристалла. Пьезоэлектрическое измерительное преобразование. Пьезодатчики и их применение.

6. Электролитическое измерительное преобразование. Принцип действия электролитических преобразователей и их примение.

7. Потенциометрические датчики: виды, схемы включения. Функциональные реостатные преобразователи.

8. Физика термоэлектрического эффекта. Преобразование температуры в электрический сигнал. Термопары, их виды, способы включения.

9. Электроемкостное измерительное преобразование. Емкостные датчики и их применение.

10. Индукционное измерительное преобразование. Индукционные датчики, их применение.

11. Индуктивное измерительные преобразование. Индуктивные и трансформаторные датчики.

12. Магнитоупругое измерительное преобразование. Магнитоупругие датчики и их применение.

13. Гальваномагнитное измерительное преобразование. Датчики Холла и их применение.

ЕН.Р.01 «Физика металлов, полупроводников и диэлектриков»

1. Ионная, ковалентная и металлическая связь. Кристаллическая решетка. Обозначение узлов, направлений и плоскостей в кристалле.Дефекты в кристаллических твердых телах, классификация дефектов. Их описание.

2. Дислокации. Контур и вектор Бюргерса. Напряжения, необходимые для образования дислокаций.Напряжения, связанные с дислокацией. Энергия дислокации. Источники дислокаций.

3. Упругая и пластическая деформация. Теоретическая и реальная прочность кристаллов. Термодинамика металлических стержней.

4. Классическая модель кристаллического твердого тела. Невырожденный электронный «газ». Понятие плотности состояний. Функция распределения невырожденного электронного газа.Функции распределения для вырожденного газа Фермионов и Бозонов. Их свойства.

5. Понятие о фононах. Фононная плотность состояний. Функция распределения фононов. Теплоемкость твердого тела. Модель Эйнштейна и Дебая. Теплоемкость электронного газа.

6. Тепловое расширение кристаллических твердых тел. Работа термонапряжений.Теплопроводность твердых тел (кристаллических).

7. Понятие о энергетических зонах. Зонное представление металлов, полупроводников и диэлектриков. Заполнение зон электронами. Принцип Паули. Уровень Ферми. Энергия Ферми в металлах и полупроводниках.

8. Электропроводность металлов в модели Друде-Лоренца. Собственная проводимость полупроводников. Фотопроводимость полупроводников.

9. Поляризация диэлектриков: электронная упругая, ионная упругая, дипольная упругая. Связь между диэлектрической проницаемостью и поляризуемостью. Сегнетоэлектрики.

10. Работы выхода. Контакт металл-металл, полупроводник-металл.

11. Термоэлектрические явления: эффект Зеебека, Томсона, Пельтье.

ЕН.В.02 «Обработка экспериментальных данных на ЭВМ»

1. Что называется абсолютной и относительной погрешностью? Какие достоинства и недостатки такого способа выражения ошибок? Что называется грубой погрешностью?

2. Что называется относительной частотой, вероятностью события и плотностью вероятности?.Дайте рекомендации при построении гистограмм..Что характеризует в гистограмме среднее, дисперсия и среднее квадратическое отклонение, асимметрия, эксцесс? Почему всегда S<x> ≤ Sx ?

ОПД.Ф.05 «Метрология, стандартизация и сертификация»

1. Постулаты теории измерений. Классификация измерений. Процесс измерения. Методы измерений.

2. Испытание и контроль. Виды ошибок. Поверка. Примеры поверочных схем.

3. Классификация погрешностей. Способы обнаружения и устранения систематических погрешностей.

ОПД.Ф.08 «Основы проектирования приборов и систем»

1. Прибор как элемент информационной системы технологический процесс-оператор.

2. Понятие измерительного сигнала. Временные и частотные характеристики измерительных сигналов.

3. Аналоговые и цифровые сигналы. Теорема Котельникова. Функциональная схема АЦП.

4. Аналоговые и цифровые сигналы. Теорема Котельникова. Функциональная схема ЦАП.

5. Измерительные преобразователи как основной элемент технической системы прибор. Классификация ИП.

6. Структура измерительных преобразователей на примере силоизмерительного прибора.

7. Методы измерительных преобразований. Связь с точностью.

8. Понятие информации по К.Шеннону. Негэнтропийный принцип передачи информации. Связь со спектральной характеристикой и модуляцией.

9. Измерительные сигналы. Понятие модуляции. Виды модуляции.

10. Понятие параметрической и генераторной величины. Структурные схемы приборов. Принципиальные различия.

11. Представление структурной схемы прибора как системы 2х-полюсников и 4х-полюсников.

12. Понятие входных и выходных сопротивлений ИП как 2х-полюсников. ИП генераторных величин.

13. Понятие входных и выходных сопротивлений ИП как 2х-полюсников. ИП параметрических величин.

14. Исследование ИП методом эквивалентного генератора. Теорема Мильштейна.

15. Системы отображения информации как приборы преобразования спектра сигнала ω → Ω. Электронно-лучевые трубки.

16. Структурная схема и работа электронного осцилограрафа.

17. Системы отображения информации как приборы преобразования спектра сигнала ω → Ω. Жидкокристаллические преобразователи.

18. Системы отображения информации как приборы преобразования спектра сигнала ω → Ω. Газоразрядные индикаторы.

19. Системы отображения информации как приборы преобразования спектра сигнала ω → Ω. Светодиодные индикаторы.



2015-12-06 429 Обсуждений (0)
ОПД.Ф.08 «Основы проектирования приборов и систем» 0.00 из 5.00 0 оценок









Обсуждение в статье: ОПД.Ф.08 «Основы проектирования приборов и систем»

Обсуждений еще не было, будьте первым... ↓↓↓

Отправить сообщение

Популярное:
Как распознать напряжение: Говоря о мышечном напряжении, мы в первую очередь имеем в виду мускулы, прикрепленные к костям ...
Модели организации как закрытой, открытой, частично открытой системы: Закрытая система имеет жесткие фиксированные границы, ее действия относительно независимы...
Почему люди поддаются рекламе?: Только не надо искать ответы в качестве или количестве рекламы...



©2015-2024 megaobuchalka.ru Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав. (429)

Почему 1285321 студент выбрали МегаОбучалку...

Система поиска информации

Мобильная версия сайта

Удобная навигация

Нет шокирующей рекламы



(0.007 сек.)