Контроль качества слитков
Слитки, имеющие в деловой части дефекты в виде “электропробоев“ или грубых пережимов, назначаются для повторного переплава или бракуются. Другие дефекты удаляются обдиркой или зачисткой. Так как слиток формируется в шлаковой оболочке (гарнисаже), то он имеет бездефектную поверхность.
Техника безопасности
При выполнении работ, связанных с подготовкой и использованием материалов, механизмов ЭШП, инструмента и приспособлений, а также выполнении технологических операций при выплавке сталей и сплавов в электрошлаковых печах и выпуске их в ковш, должны соблюдаться требования инструкций по безопасности труда для подручных сталеваров и сталеваров установок ЭШП электросталеплавильного цеха [2]. 5 Расчёт геометрических размеров электрода и кристаллизатора
Исходя из того, что данная сталь имеет достаточно широкое применение в промышленности, то годовой объём производства её велик. Поэтому была выбрана бифилярная печь ЭШП-5ВГ, т.к. она имеет преимущества по сравнению с другими установками с позиции технико-экономических показателей, а также тем, что данная установка может работать как по бифилярной схеме, так и по монофилярной одноэлектродной схеме. Для данного переплава выбрана одноэлектродная схема.
Расчёт геометрических размеров слитка
Коэффициент формы слитка kсл (kсл =4…5):
kсл = , (1)
где lсл - длина слитка, м; Dосл - определяющий размер сечения слитка, м. Масса слитка m0, кг :
, (2)
где dт - плотность стали (dт = 7,88 т/м³); Sосн - площадь основания слитка ( ), м2. Тогда: (3)
Выразим lосл :
(4) ;
Расчёт геометрических размеров кристаллизатора.
, (5)
где lо.кр- определяющий размер кристаллизатора, м; kл - коэффициент линейной усадки металла, kл =1,020; Dо.сл - определяющий размер поперечного сечения слитка, м; ∆г - толщина шлакового гарнисажа (∆г = 0,002м). Принимаем кристаллизатор с диаметром сечения 0,5 м. В таком кристаллизаторе слиток будет иметь размеры:
; (6) ; (7)
; (8)
Расчёт сторон верхнего и нижнего сечений слитка.
; (9) , (10)
где Dслн - диаметр нижнего сечения слитка, м; Dслв - диаметр верхнего сечения слитка, м; Составим систему уравнений для определения диаметра верхнего и нижнего сечения слитка. Решим систему уравнений: м; м. Расчёт сторон верхнего и нижнего сечений кристаллизатора.
, (11)
где Dо.кр.н - диаметр нижнего сечения кристаллизатора, м.
м; , (12)
где Dо.кр.в - диаметр верхнего сечения кристаллизатора, м; lкр - длина кристаллизатора, м. Определение числа и геометрических параметров расходуемого электрода. Длина оплавляемой части электрода:
, (13)
где kз сл - коэффициент заполнения слитка. Коэффициент заполнения слитка:
, (14)
где n - количество электродов, n = 1; sэд - площадь сечения электрода, м2; sсл - площадь поперечного сечения слитка, м2 ; (15)
м2; Исходя из этого определяем: Зазор между стенкой кристаллизатора и электродом составляет: Определяем длину оплавляемой части электрода: , Полная длина электрода:
, (16)
где lо - длина огарка (50 мм);инв. г - длина инвентарной головки (1,5 м). Масса электрода:
mэд = dт ·Vэд, (17) где Vэд - объём электрода, м3. mэд = 7,8 ·5,4 · 0,071 = 3,005 т Кратность шлака (kшл ) при ЭШП соответствует 2…5 % от массы слитка, т.е. масса шлака mшл составляет, т:
(18) т
При этом объём шлаковой ванны (м3) без электрода равен:
, (19)
где з - плотность жидкого шлака разного химического состава (для АНФ-1П ) м3. С погруженным электродом
, (20)
где - площадь поперечного сечения n электрода, м2; hэд - заглубление электрода в шлаковую ванну, м; hшл - глубина (высота) шлаковой ванны с погруженным электродом, м; sкр - площадь поперечного сечения кристаллизатора, м2. С учётом электрофизических особенностей процесса ЭШП величина hшл должна соответствовать условию:
(21)
Нижний предел неравенства определяется необходимым расстоянием h между торцом электрода и зеркалом жидкометаллической ванны во избежание возникновения дугового разряда:
(22)
Верхний предел неравенства (21) определяется максимально допустимым заглублением hэд электрода в шлаковую ванну :
(23)
Используя формулу (20) найдем: Используя формулу (20) найдем глубину шлаковой ванны с погруженным электродом: Длина кристаллизатора: lкр = lсл + hшл + ∆l (24)
где ∆l - конструктивный размер кристаллизатора (∆l = 0,15 м). lкр = 2,07+ 0,29+ 0,15=2,52 м По формуле (12) определяем верхнее сечение кристаллизатора: Высота установки определяется по формуле:
(25) .
Популярное: Как построить свою речь (словесное оформление):
При подготовке публичного выступления перед оратором возникает вопрос, как лучше словесно оформить свою... Модели организации как закрытой, открытой, частично открытой системы: Закрытая система имеет жесткие фиксированные границы, ее действия относительно независимы... Почему двоичная система счисления так распространена?: Каждая цифра должна быть как-то представлена на физическом носителе... ©2015-2024 megaobuchalka.ru Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав. (303)
|
Почему 1285321 студент выбрали МегаОбучалку... Система поиска информации Мобильная версия сайта Удобная навигация Нет шокирующей рекламы |