Ширина щели монохроматора

Так как ширина монохроматического излучения напрямую связана с шириной входной/выходной щели монохроматор, то насколько оправдан выбор щели 0,2мм, используемый в данной работе?

Для ясности возьмём выходной спектр с диной волны =230 нм и спектр с +1=231 нм. Изменяя ширину щелей, будем наблюдать на спектрофотометре Колибри, при какой ширине два близкорасположенных спектра различимы.

На рисунках 5.2-5.5 показана зависимость спектральной ширина щели от ширины щели. Под шириной щели понимается одновременно ширина входной и выходной щели. Видно, что ширины щели 0.4мм достаточно для разрешения двух близкорасположнных линий с интервалом в 1нм.

Однако, ширина спектральной ширины щели в зависимости от длины волны будет изменяться. Это связано с уменьшением угловой дисперсии с увеличением длины волны. То есть, ширина спектральной ширины щели при увеличении длины волны увеличивается. Экспериментально снятая зависимость приведена на рис. 5.6. Ширина одного диода 12,5 мкм.

Приложение 5

Пропускная способность правого и левого каналов

Отношение интенсивностей правого и левого каналов приведено на рис.5.7.

Приложение 6

Спектр лампы ДДС-30

Из рис. 5.1 видно, что лампу ДДС-30 в монохроматоре можно использовать в области сплошного спектра - от вакуумного УФ до 470нм.

Список литературы

1. Шелпакова И.Р., Гаранин В.Г., Лабусов В.А. Многоэлементные твёрдотельные детекторы и их использование в атомно-эмиссионном спектральном анализе (обзор), ”Заводская лаборатория. Диагностика материалов” №10, том 65

2. Павлычева Н.К. Спектральные приборы с неклассическими дифракционными решётками, Издательство КГТУ, 2003

.   Лабусов В.А., Бехтерев А.В., Попов В.И., Путьмаков А.Н.,Селюнин Д.О. Современные тенденции развития оборудования для атомно-эмиссионного спектрального анализа. Материалы IV международного симпозиума «Применение анализаторов МАЭС в промышленности», Новосибирск, 2003

.   Дробышев А.И. Основы атомного спектрального анализа, Изд. С.-Петербургского университета, 2000

.   Буравлёв Ю.М. Основы атомно-эмиссионного спектрального анализа металлов и сплавов, Донецк, ДонНУ, 2001

.   Малышев В.И. Введение в экспериментальную спектроскопию, Изд. ”Наука”, 1979

.   Пейсахсон И.В. Оптика спектральных приборов, Изд. ”Машиностроение”, 1970

.   Лебедева В.В. Экспериментальная оптика, Издательство Московского Университета, 1994

.   Описание диода AXUV

.   Аневский С.И. Фотометрирование источников непрерывного излучения в вакуумном ультрафиолете. Спектральные энергетические измерения в вакуумном и ближнем ультрафиолете, Научные труды(НТ/81), Москва, 1981

.   Зайдель А.Н., Шрейдер Е.А. Вакуумная спектроскопия и её применение, Изд. ”Наука”, 1976

.   Зайдель А.Н., Шрейдер Е.А. Спектроскопия вакуумного ультрафиолета, Изд. ”Наука”, 1967

.   Лабусов В.А., Михайлов А.В. Исследование характеристик новой дифракционной решетки. Материалы IV международного симпозиума «Применение анализаторов МАЭС в промышленности», Новосибирск, 2003

.   Михайлов А.В. Исследование характеристик вогнутых дифракционных решёток. Материалы XLII Международной научной студенческой конференции ”Студент и научно-технический прогресс”, Новосибирск, 2004

.   Михайлов А.В. Исследование квантовой эффективности твёрдотельного детектора. Материалы XLII Международной научной студенческой конференции ”Студент и научно-технический прогресс”, Новосибирск, 2004

.   Нагибина И.М., Михайловский Ю.К. Фотографические и фотоэлектрические спектральные приборы и техника эмиссионной спектроскопии, Изд. ”Машиностроение”, 1981

. Павлычева Н.К.    Голограммные дифракционные решётки 2-го и 3-го поколений в спектрографах Роуланда “Оптический журнал”, том 69, №4, 2002