Положение и ориентация плоскостей и направлений в кристалле

Кристаллы – анизотропны (т. е. свойства зависят от направления).

От ориентации кристалла зависят: скорости травления, диффузии, окисления, а следовательно характеристики полупроводниковых приборов.

Для обозначения плоскостей и ориентаций в кристалле используются специальные обозначения – индексы Миллера (h, k, l).

Индексы Миллера– обратно пропорциональны длинам отрезков, отсекаемых плоскостью на осях координат.

На практике их определяют следующим образом:

- Находят точку пересечения плоскости с координатными осями;

- Измеряют длину отсечённых отрезков, используя в качестве единицы длины – постоянную решётки;

	- Находят обратные величины и округляют результат до ближайших целых чисел. - Индексы Миллера Направление перпендикулярное плоскости: [323].
Обозначения плоскостей и направлений: единичная плоскость – (111); - совокупность плоскостей – {111}; направление – [111]; совокупность направлений – <111>; знак минус - ставится над цифрой.

Обратная решетка

Для описания электронных свойств твердых тел используют понятие обратной решетки. Обратная решетка представляет собой упорядоченную совокупность точек, представляющих безразмерные значения волнового вектора к, нормированные к импульсу частицы: k = Р/ħ. Иногда обратную решетку называют решеткой в k -пространстве или решеткой в пространстве импульсов.

Таким образом, обратная решетка представляет собой упорядоченную совокупность точек, представляющих безразмерные значения волнового вектора, нормированные к импульсу частицы (электрона) или квазичастицы (дырки).

Экспериментально, параметры обратной решетки находят из экспериментов по дифракции электронов.

Ячейка Вигнера-Зейтца, построенная в обратном пространстве, совпадает с первой зоной Бриллюэна (см. главу 3).