Зонная структура некоторых полупроводников
Расчёт зонной структуры твердых тел затруднён т.к. отсутствуют аналитические выражения для потенциала V(r). Поэтому при любых расчётах, в формулах содержаться некоторые параметры, значения которых определяются экспериментально. Например, ширина запрещенной зоны и эффективная масса определяется только из экспериментов; в частности, величину и ориентационную зависимость m* определяют из экспериментов по циклотронному резонансу. Имеющиеся к настоящему времени данные о зонной структуре полупроводников получены на основе, как теоретических расчётов, так и экспериментальных работ. Рассмотрим зонную структуру некоторых полупроводников. Как видно из рисунка (рис. 1.52), каждая из зон состоит из 3-х подзон. Это противоречит тому, что валентную зону и зону проводимости формируют 4 электрона (подзон должно быть 4). Однако это противоречие объясняется тем, что зона проводимости и валентная зона основных полупроводников (Si, Ge, GaAs …) включают р-состояния, для которых в кристалле снимается вырождение, поэтому каждая из зон представляет собой наложение лишь 3-х различных подзон. Из рис. 1.52 следует, что зависимости
Рис.1.52.Структура энергетических зон Ge,Si и GaAs.
Изоэнергетические поверхности, т.е. поверхности равной энергии, около абсолютных минимумов представляют собой эллипсоиды вращения относительно большой полуоси. Зависимость энергии
Опыты по циклонному резонансу дают для компонентов тензора эффективной массы электрона в кремнии следующие значения
здесь индекс t (transverse) обозначает поперечную составляющую эффективной массы, индекс l (longitudinal) – продольную (см. рис. 1.53).
Эллипсоиды вращения изоэнергетических поверхностей в кремнии направлены в обратном пространстве таким образом, что большая полуось совпадает с направлениями <100>. Т.е. в кремнии имеется 6-кратное вырождение минимума (рис. 1.54). В германии – большие полуоси эллипсоидов вращения направлены вдоль направлений <111> (8-кратное вырождение). В GaAs – зона проводимости имеет форму сферы (рис. 1.54), т.е. эффективная масса электронов является скалярной величиной (содержит один компонент). Рис. 1.54. Форма и расположение изоэнергетических поверхностей в Ge, Si и GaAs.
Точка минимума зоны проводимости у Si находится на расстояния 3/4 от центра до границы зоны Бриллюэна (рис. 1.55 а), у Ge – на краю зоны Бриллюэна (так, что эллипсоид минимальной энергии принадлежит одновременно и первой и второй зонам Бриллюэна, (рис. 1.55 б)), у GaAs – в центре зоны Бриллюэна.
Для валентной зоны максимум энергии находится в центре зоны Бриллюэна Минимальное расстояние между, дном зоны проводимости и потолком валентной зоны называется шириной запрещённой зоны. Для Si и Ge, как видно из рис. 1.52, минимум зоны проводимости и максимум валентной зоны лежат в разных точках зоны Бриллюэна, т.е. при различных значениях k. Такие полупроводники, у которых минимум зоны проводимости и максимум валентной находятся при различных значениях k, называются непрямозонными. К их числу относится Si, Ge и др. (рис. 1.52 а, б). Полупроводники, для которых минимальное значение зоны проводимости и максимальное значение валентной зоны лежит при одном и том же k, называются прямозонными. Типичными представителями прямозонных полупроводник являются InSb, InP, GaAs (рис. 1.52в). Из оптических и электрических исследований свойств полупроводников следует, что положение и ширина энергетических зон и примесных уровней зависят от температуры. Ширина запрещенной зоны большинства полупроводников уменьшается с увеличением температуры (рис. 1.57). Однако имеется несколько полупроводников (PbS, PbSe, Te), у которых повышение температуры сопровождается увеличением ширины запрещенной зоны.
2. С увеличением температуры растет интенсивность колебаний решетки и увеличивается электрон-фононное взаимодействие, приводящее к смещению потолка валентной зоны и дна зоны проводимости. Расчеты показывают, что это дает основной вклад в температурную зависимость запрещенной зоны. При температурах Т<<Q, где Q - температура Дебая, ширина запрещенной зоны пропорциональна Т2, а если Т>>Q, то ширина запрещенной зоны линейно зависит от Т. Варшни И.П. показал, что наблюдаемую на опыте температурную зависимость ширины запрещенной зоны для алмаза, кремния, германия, карбида кремния, арсенида галлия, фосфида индия и арсенида индия можно выразить эмпирической формулой
где
Популярное: Как построить свою речь (словесное оформление):
При подготовке публичного выступления перед оратором возникает вопрос, как лучше словесно оформить свою... Почему стероиды повышают давление?: Основных причин три... ![]() ©2015-2024 megaobuchalka.ru Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав. (3112)
|
Почему 1285321 студент выбрали МегаОбучалку... Система поиска информации Мобильная версия сайта Удобная навигация Нет шокирующей рекламы |